技術(shù)編號(hào)：6053717
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀，特別是涉及一種具有除塵防污染裝置的靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀。背景技術(shù)目前，靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀在進(jìn)行分析測(cè)試之前，需要對(duì)裝入樣品管的樣品進(jìn)行抽真空脫氣處理，除去樣品表面吸附的水、二氧化碳等氣體雜質(zhì)。當(dāng)脫氣位抽真空時(shí)，樣品管中的氣體在被抽走過程中或粉體樣品上吸附的氣體在釋放過程中，將粉體樣品帶起來，隨氣流一同從樣品管流向真空獲得系統(tǒng)，形成抽飛現(xiàn)象。一些樣品如低松裝密度的納米材料和含水比較多的材料很可能被抽飛，這些被...
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