技術(shù)編號(hào):6086584
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用來(lái)分析樣品表面的方法和裝置,例如電子探測(cè)微量分析儀(EPMA)、掃描電子顯微鏡(SEM)等,特別涉及這些表面微量分析儀的測(cè)得數(shù)據(jù)的本底較正。在電子微量分析儀或掃描電子顯微鏡中,一直徑為幾十埃(A)的電子束來(lái)掃描待分析的樣品的表面,以便將從電子束掃描過(guò)的樣品表面上的每一微小點(diǎn)和所有微小點(diǎn)發(fā)出的種種信息用電的方法加以檢測(cè),并用樣品的成份和/或各成份的濃度與樣品表面的掃描同步地顯示在一陰極射線管上,由此顯示樣品中所含的元素的分布。被電子束照射的樣品表...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。