技術(shù)編號：6099671
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。相關(guān)申請交叉參考根據(jù)35 USC§119，本申請基于并要求2004年2月26日提交的、日本專利申請?zhí)?004-51016的優(yōu)先權(quán)利益，其全部內(nèi)容通過引用而結(jié)合于此。背景技術(shù)本發(fā)明涉及工作模式設(shè)置電路，尤其涉及半導(dǎo)體集成電路中緊接著電源接通之后設(shè)置工作模式的電路。半導(dǎo)體集成電路一般具有專用于測試的集成電路，并包括與正常工作模式不同的測試模式，以便于測試。然而，由于測試模式與正常工作模式不同，用戶不在該測試模式中操作半導(dǎo)體集成電路。因此，如果測試模式由于某種原...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。