技術(shù)編號：6108891
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試晶片上集成電路(IC)時所使用的測試系統(tǒng)的探針卡結(jié)構(gòu)。更具體地講，本發(fā)明涉及一種具有智能單板特征的探針卡結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)能使探針卡分配一條從測試系統(tǒng)控制器到多個測試探針的單通道從而連接到晶片上的IC。背景技術(shù) 當測試晶片上的IC時，同時測試盡可能多的器件在成本方面是有利的，這會減少每個晶片所用的測試時間。測試系統(tǒng)控制器不斷改進，以便增大通道的數(shù)目和可以同時測試的器件的數(shù)目。然而，測試系統(tǒng)控制器的測試通道不斷增多對于該測試系統(tǒng)而言是一個顯著的成...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。