技術(shù)編號：6109078
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及自動測試設(shè)備(ATE)的領(lǐng)域。更具體地，本發(fā)明涉及一種用于支持開放架構(gòu)測試系統(tǒng)中的校準(zhǔn)和/或診斷的方法及系統(tǒng)。背景技術(shù) 芯片上系統(tǒng)(SOC)器件的增加的復(fù)雜度及同時對芯片測試成本減小的要求已經(jīng)迫使集成電路(IC)制造者和測試設(shè)備廠商都在重新考慮應(yīng)當(dāng)如何執(zhí)行IC測試。根據(jù)工業(yè)研究，在沒有重新設(shè)計的情況下，測試設(shè)備的預(yù)計成本在不久的將來將繼續(xù)大幅上升。測試設(shè)備的高成本的主要原因是傳統(tǒng)測試設(shè)備架構(gòu)的專有性質(zhì)。每個測試設(shè)備制造者具有許多測試設(shè)備平臺，這些...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。