技術(shù)編號(hào)：6111005
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種光學(xué)部件的檢查方法以及裝置。尤其，涉及一種適于在信息記錄介質(zhì)(例如光盤)中記錄信息或?qū)υ谠撔畔⒂涗浗橘|(zhì)中記錄的信息進(jìn)行讀出或者進(jìn)行其雙方的光學(xué)系統(tǒng)中的光學(xué)部件的光學(xué)特性檢查方法與裝置。背景技術(shù) 為了對(duì)透鏡或棱鏡等光學(xué)部件的光學(xué)特性進(jìn)行評(píng)價(jià)，有對(duì)光學(xué)部件中含有的像差進(jìn)行檢查的方法，因此利用光的干涉的測(cè)量被利用。作為一種利用光的干涉的特性檢查方法，公知有如圖23所示的馬赫-曾德?tīng)?mach-zehnder)型徑向剪切干涉儀1000。若參照附圖，則...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。