技術(shù)編號(hào)：6111830
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明用于光學(xué)物理試驗(yàn)和精密測量領(lǐng)域。背景技術(shù)使用現(xiàn)有邁克爾遜干涉儀進(jìn)行光學(xué)物理實(shí)驗(yàn)和精密測量時(shí)存在如下問題1.所用單色(或準(zhǔn)單色)光源(如鈉光、He-Ne激光、半導(dǎo)體激光等)游離在邁克爾遜干涉儀之外，使用時(shí)臨時(shí)配置，操作不便；2.由于光源沒有固定，有時(shí)會(huì)因自己或旁人不小心觸碰發(fā)光器而導(dǎo)致所有調(diào)節(jié)前功盡棄；3.通常在調(diào)節(jié)干涉現(xiàn)象時(shí)是以觀察屏上的兩個(gè)光斑重合來判斷反射鏡1和反射鏡2相互垂直的，即反射鏡1和反射鏡2對于分光鏡的鏡像相互平行，這只有當(dāng)反射鏡1和反...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。