技術編號:6112747
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種精確測量微波毫米波介質基片介電常數的方法,從而為集成微波毫米波電路的設計提供精確的介電常數參數,最終提高集成微波毫米波電路設計精度和成品率。背景技術 隨著微波毫米波技術的不斷發(fā)展,人們研制出了各種各樣的微波毫米波集成工藝和器件。PCB工藝、LTCC工藝制作的印刷微帶電路、印刷天線等,其電氣性能同介質基片的相對介電常數密切相關,這使得準確測量介質基片的相對介電常數變得愈發(fā)重要。過去半個世紀中,人們廣泛使用基于傳輸線技術的單端口和雙端口測量方法來...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。