技術(shù)編號(hào)：6112758
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，尤其是涉及包括將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的A/D轉(zhuǎn)換電路及將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)的D/A轉(zhuǎn)換電路的半導(dǎo)體集成電路的測(cè)試裝置及測(cè)試方法。背景技術(shù)這種半導(dǎo)體集成電路的測(cè)試裝置，稱作測(cè)試器。近年來(lái)，在作為由在功能上系統(tǒng)化了的多個(gè)電路組件構(gòu)成的單片半導(dǎo)體集成電路(單片LSI)或?qū)⒍鄠€(gè)電路的各個(gè)芯片組合的混合集成電路(芯片組LSI)等而構(gòu)成的系統(tǒng)LSI中，將高性能、高精度的數(shù)字電路和模擬電路組合后的混合型式(混合信號(hào)型)取得飛速的進(jìn)展，在對(duì)這些半導(dǎo)體集成...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。