技術(shù)編號：6115825
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種在液晶面板等顯示設(shè)備及作為其應(yīng)用產(chǎn)品的投影儀等的制造中的檢查步驟等各種產(chǎn)品的檢查步驟中，高精度自動檢測出低對比度(contrast)的缺陷的缺陷檢測方法以及裝置。背景技術(shù) TFT(Thin Film Transistor)面板等液晶面板檢查中，污跡、不均、亮點、黑點等缺陷，由于形狀不穩(wěn)定并且對比度也低，因此很難通過檢查裝置自動檢測。所以，目前檢查還是通過檢查員的目視來進(jìn)行，為了削減制造成本，迫切需要檢查的自動化。另外，污跡或不均缺陷是指顯示畫...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。