技術(shù)編號：6121285
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的實(shí)施例涉及電子器件領(lǐng)域，具體而言，涉及針對電子器 件中的差錯有復(fù)原能力的操作。背景技術(shù)單粒子翻轉(zhuǎn)(Single event upset， SEU)又稱為軟差錯(SER)， 其是由高能粒子，例如，由宇宙射線生成的中子和來自包裝材料的a 粒子在數(shù)字系統(tǒng)中引起的、由輻射誘發(fā)的瞬態(tài)差錯。對于在先進(jìn)技術(shù) 節(jié)點(diǎn)U30nm、 90nm等)內(nèi)制造的設(shè)計(jì)而言，SEU具有不斷增大的 重要性。因此，軟差錯對于那些以具有非常高的可靠性、數(shù)據(jù)完整性 和可用性的企業(yè)和應(yīng)用為目...
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