技術(shù)編號(hào)：6136181
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及包括具有多個(gè)電路塊的陣列部分的半導(dǎo)體器件，以及控制這種半導(dǎo)體器件的方法。特別是，本發(fā)明涉及具有切斷漏電流的功能的半導(dǎo)體器件，該漏電流是在每個(gè)電路塊的陣列部分中單獨(dú)出現(xiàn)的。冗余設(shè)計(jì)技術(shù)(缺陷補(bǔ)償技術(shù))被用來防止在半導(dǎo)體制造過程中由于可能出現(xiàn)在LSI中的隨機(jī)缺陷而引起的大規(guī)模集成電路(LSI)產(chǎn)量的下降。在冗余設(shè)計(jì)技術(shù)中，在電路結(jié)構(gòu)中建立冗余度以使少量缺陷的出現(xiàn)不會(huì)損害整個(gè)LSI的功能。這種冗余設(shè)計(jì)技術(shù)特別被用在存儲(chǔ)器中。例如，在諸如隨機(jī)存儲(chǔ)器(RA...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。