技術(shù)編號：6138610
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明一般涉及集成電路芯片(IC)或其它器件的老化和測試的裝置，特別涉及用于確保新制造的IC能適于使用的老化板上的IC器件的冷卻技術(shù)。更具體說，本發(fā)明包括用于提供提高的冷卻被測器件的能力并能容納各種不同外觀的被測器件的插座。電子器件制造領(lǐng)域都知道，在將各種電子分元件組裝成較大裝置之前，要測試和/或“老化”它們。例如，計算機芯片通常分別連接于老化系統(tǒng)中，以便于確保每個芯片中的所有需要的電子電路能夠工作。老化工藝可以加速芯片的老化，所以能夠在制造工藝中早識別和...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。