技術(shù)編號(hào):6149135
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域,特別是。 背景技術(shù)通用測(cè)試解決方法用于各種類型的集成電路的測(cè)試。在集成電路測(cè)試中,現(xiàn)有的集成電路的通用測(cè)試方法一般使用PC(電腦主機(jī)) 或MCU (微控器)為主要控制模塊,通過PC控制特定的測(cè)試功能模塊,提供給總 線測(cè)試資源。這種方法中整個(gè)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理及具體功能控制全在PC端進(jìn)行后臺(tái) 處理,其一般結(jié)構(gòu)如圖l所示?,F(xiàn)有的測(cè)試方法中FPGA (邏輯可編程電路) 一般僅使用在測(cè)試功能模塊中。 現(xiàn)有的測(cè)試方法中,測(cè)試向量都需要讀回PC...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。