技術(shù)編號：6151984
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種低相千干涉中心條紋信息的提取裝置及方法，更特別地說，是指一種利用CMOS相機進行圖像采集，然后采用條紋輪廓面積比較進行的低相千千涉中心條紋的提取裝置。背景技術(shù)光的千涉測試本質(zhì)是以光波的波長作為單位迸行計量的，傳統(tǒng)的千涉計量主要檢 測的是千涉條紋，通過檢測條紋位置、形狀、間距等的變化，精確測定一些物理量的 微小量值。在這些測量系統(tǒng)中，最常使用的是以各類單，莫或窄頻帶相千激光設(shè)備作為 光源的測量系統(tǒng)；其中，激光要求光學元件具有極髙的精確性，往往使...
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