技術(shù)編號(hào)：6153003
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，特別涉及一種彌補(bǔ)電路板檢測(cè)中機(jī)械精度不足 的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI (Auto-Optical-Inspection)系統(tǒng)，即用光學(xué)手段獲取被測(cè) 物影像數(shù)據(jù)(一般通過攝像裝置獲得檢測(cè)物的圖像并數(shù)字化)，然后以特定方法 與預(yù)先建立的模板進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷。在具體實(shí)現(xiàn)時(shí)，現(xiàn)有的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)通過以下方式實(shí)現(xiàn)比較首先抓 取整個(gè)電路板的圖像并通過電路板上的兩個(gè)標(biāo)記點(diǎn)(Mark)進(jìn)行圖像分析，然 后根據(jù)上...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。