技術(shù)編號:6158365
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種反饋式線束低溫彎折實驗方法,同時提供了適用于該方法的實驗裝置,屬于電子元器件檢測。背景技術(shù)線束在低溫下彎折的情況在實際生活中比較常見,尤其在北方地區(qū)冬季的氣候寒冷干燥等特點使得低溫環(huán)境下彎折線束對線束表面絕緣層和線束內(nèi)芯損壞速度加劇,使得線束使用壽命大大降低,使用該類線束的產(chǎn)品可靠性也隨之下降。 線束低溫彎折實驗裝置是實驗室內(nèi)檢測線束在低溫環(huán)境下使用壽命的必備設(shè)備,采用模擬人手彎折線束的方式在低溫環(huán)境試驗箱中進行模擬試驗。目前,多數(shù)實驗室現(xiàn)...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。