技術(shù)編號：6165785
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測并評估識別標(biāo)記的技術(shù)。本發(fā)明尤其涉及一種用于檢測至少一個識別標(biāo)記的標(biāo)識符以及位置和/或地點(diǎn)的系統(tǒng)，其包括至少一個第一光學(xué)記錄設(shè)備（40），其以被布置在第一光學(xué)記錄設(shè)備（40）的測量體積之內(nèi)的至少一個識別標(biāo)記（100）的空間位置和/或地點(diǎn)能夠通過所述第一光學(xué)記錄設(shè)備被檢測的方式而被設(shè)計(jì)，以及至少一個數(shù)據(jù)處理裝置（35），其至少間接連接至第一光學(xué)記錄設(shè)備（40）并且接收從所述光學(xué)記錄設(shè)備傳送的關(guān)于檢測的識別標(biāo)記（100）的空間位置和/或地點(diǎn)的信息...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。