技術(shù)編號：6174295
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種基于激光合成波長干涉原理的波長測量方法及裝置。將參考激光器和待測激光器的輸出光束調(diào)制成正交線偏振光，入射到激光合成波長干涉儀，分別形成各自的干涉信號；干涉儀的第一角錐棱鏡移動時，兩路干涉信號的相位差變化2π對應(yīng)于第一角錐棱鏡移動半個由參考激光波長λR和待測激光波長λU形成的合成波長λS的位移；當λS較小時，檢測兩路干涉信號兩次同時過零點的位置，測得λS值；當λS較大時，先移動第二角錐棱鏡，然后檢測兩路干涉信號兩次同時過零點位置，再結(jié)合第二角...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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