技術(shù)編號(hào)：6178468
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種可進(jìn)行水平校準(zhǔn)的電子分析天平，包括測(cè)量基座與設(shè)置在測(cè)量基座上的測(cè)量室，所述測(cè)量基座包含控制面板、顯示屏，以及設(shè)立在測(cè)量基座上表面的測(cè)量平臺(tái)；所述測(cè)量室包括玻璃面板與前開門；所述測(cè)量基座下方設(shè)有至少3根相互間均獨(dú)立的支架，所述支架均可進(jìn)行伸縮；所述測(cè)量基座上安裝有水準(zhǔn)器，所述水準(zhǔn)管內(nèi)部裝填有酒精，水準(zhǔn)管內(nèi)包含有一氣泡；所述水準(zhǔn)管表面標(biāo)有分標(biāo)線；采用上述技術(shù)方案的電子分析天平，其可使得每次測(cè)量時(shí)的天平均處于水平狀態(tài)，從而減少測(cè)量誤差，到達(dá)電子分析...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。