技術(shù)編號(hào)：6185108
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開一種熒光粉性能測試系統(tǒng)及其測試方法，系統(tǒng)包括真空樣品室、測試平臺(tái)、抽真空裝置、高壓電源、激勵(lì)源、采集光纖、單色儀、單光子計(jì)數(shù)器和數(shù)據(jù)處理器。測試平臺(tái)包括陰極支架和樣品支架，F(xiàn)ED陰極片設(shè)置于陰極支架上，樣品片設(shè)置于樣品支架上，且樣品片上的樣品測試區(qū)位于FED陰極片上的陰極測試區(qū)上方，高壓電源輸出端可分別向陰極片和樣品片輸出高低電位，以實(shí)現(xiàn)模擬FED激勵(lì)；激勵(lì)源可選擇真空紫外光源或者電子槍，作用于樣品測試區(qū)，使得樣品發(fā)光，從而使得采集光纖采集到發(fā)光...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。