技術(shù)編號(hào):6192758
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型公開了一種功率半導(dǎo)體器件熱阻測(cè)試裝置,其特征在于,包括金屬散熱基板,用于保證無(wú)引腳芯片載體器件進(jìn)行良好散熱,由上基板和下基板組成,固定在恒溫平臺(tái)上;印刷電路板,用于引出無(wú)引腳芯片載體器件管腳,與金屬散熱基板上下疊放在一起;T型熱偶,用于測(cè)量無(wú)引腳芯片載體器件下表面的溫度,安置于金屬散熱基板中。專利說(shuō)明功率半導(dǎo)體器件熱阻測(cè)試裝置[0001]本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體器件測(cè)試領(lǐng)域,涉及一種功率半導(dǎo)體器件熱阻測(cè)試的裝 置,特別涉及可用于無(wú)引腳芯片載體封裝功率...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。