技術(shù)編號(hào)：6215374
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了用于測(cè)量阻性結(jié)構(gòu)的電阻的方法和系統(tǒng)，所述阻性結(jié)構(gòu)具有至少三個(gè)節(jié)點(diǎn)。通過測(cè)量沒有校準(zhǔn)電流注入到阻性結(jié)構(gòu)的第一和第二節(jié)點(diǎn)之間的第三結(jié)點(diǎn)時(shí)電阻結(jié)構(gòu)的一個(gè)輸出端上的電壓來(lái)確定第一校準(zhǔn)信號(hào)。然后向第三節(jié)點(diǎn)注入校準(zhǔn)電流，以及確定第二校準(zhǔn)信號(hào)。確定第一校準(zhǔn)信號(hào)和第二校準(zhǔn)信號(hào)之間的差的絕對(duì)值，該絕對(duì)值與阻性結(jié)構(gòu)的電阻值和校準(zhǔn)電流的乘積成比例。專利說明測(cè)量阻性結(jié)構(gòu)電阻的方法和系統(tǒng)[0001]本公開總體上涉及電子技術(shù)，更具體地涉及阻性結(jié)構(gòu)的校正。背景技術(shù)[0002...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。