技術(shù)編號：6217473
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種，該方法包括一窗測試和二窗測試，一窗測試包括潛在危險測試、無危險測試和關(guān)鍵測試；二窗測試包括無危險測試和關(guān)鍵測試，關(guān)鍵測試主要包含了正向電壓、電流放大倍數(shù)、漏電流、正向直流電流以及最大流通電流在內(nèi)的參數(shù)測試。本發(fā)明分為兩個測試步驟，測試的準確率增高，測試參數(shù)多，檢測范圍大，設(shè)有潛在危險測試，對產(chǎn)品的反向擊穿、大飽和電流、大電流開啟測試以及大電流增益進行測試，增加了產(chǎn)品在潛在危險狀態(tài)工作的正常率，測試后的產(chǎn)品性能更優(yōu)，更能排除潛藏的殘次品。專...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。