技術(shù)編號：6219389
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測有機(jī)污染物的方法，具體地說是。采用有機(jī)污染物分子印跡聚合物作為固相萃取填料對樣品中有機(jī)污染物進(jìn)行富集分離，而后利用有機(jī)污染物分子印跡聚合物膜離子選擇性電極對上述富集后的有機(jī)污染物進(jìn)行電位檢測，從而實(shí)現(xiàn)復(fù)雜樣品中有機(jī)污染物的電位檢測。本發(fā)明采用分子印跡固相萃取技術(shù)消除影響電位檢測的復(fù)雜樣品基體效應(yīng)，有效提高了電位檢測的精確度，擴(kuò)大了電位檢測法的應(yīng)用范圍。專利說明[0001]本發(fā)明涉及檢測有機(jī)污染物的方法，具體地說是。背景技術(shù)[0002]聚合物敏...
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