技術(shù)編號(hào)：6220065
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。，包括步驟將待測電阻片沿垂直于電流方向至少平均切割為5等份；分別測試上步驟得到的若干切片的介電性能；以各個(gè)切片的介電常數(shù)虛部ε''為縱坐標(biāo)，頻率f為橫坐標(biāo)，得到介電常數(shù)虛部ε''在不同溫度下隨頻率f的變化規(guī)律，按Arrhenius公式計(jì)算出各個(gè)損耗峰對應(yīng)的松弛活化能值，通過松弛活化能來判斷損耗峰對應(yīng)的缺陷分別是氧空位和鋅填隙本征缺陷；對各個(gè)切片在-100℃下的介電譜ε''～f進(jìn)行損耗峰峰值對比，得到電阻片內(nèi)氧空位和鋅填隙兩種本征缺陷濃度在電流方向上的分布情...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。