技術(shù)編號(hào)：6220069
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種，通過將一維納米結(jié)構(gòu)放在溝道電極內(nèi)，電極無需與一維納米結(jié)構(gòu)構(gòu)成歐姆接觸，使用微探針移動(dòng)被測(cè)納米線/帶，改變納米線/帶的位置，使之與電極平行或垂直，測(cè)量光生電荷沿寬或長方向分離所產(chǎn)生的光伏；利用三明治結(jié)構(gòu)電極測(cè)量光生電荷沿高度方向分離產(chǎn)生的光伏；同時(shí)結(jié)合同軸激發(fā)的共聚焦顯微鏡，使激發(fā)光光斑大小聚焦到光的衍射極限尺寸，實(shí)現(xiàn)分辨率在光衍射極限的微區(qū)光伏和光學(xué)響應(yīng)的同步掃描成像測(cè)量。專利說明[0001]本發(fā)明屬于半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)光電測(cè)量技術(shù)，特別涉及...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。