技術(shù)編號(hào):6221511
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種防止可靠性測(cè)試時(shí)發(fā)生共振的結(jié)構(gòu),涉及半導(dǎo)體測(cè)試工藝領(lǐng)域,包括測(cè)試機(jī)臺(tái)、測(cè)試器件和外加電容,測(cè)試器件和外加電容設(shè)于測(cè)試機(jī)臺(tái)上,測(cè)試器件上設(shè)有漏極和襯底,測(cè)試器件的漏極和襯底之間并聯(lián)外加電容,并聯(lián)的測(cè)試器件和外加電容的外加頻率不等于測(cè)試機(jī)臺(tái)的固有頻率。本發(fā)明的技術(shù)方案有效的解決了封裝級(jí)別可靠性測(cè)試發(fā)生共振無(wú)法正常測(cè)試的問(wèn)題,不但節(jié)約了測(cè)試資源,還節(jié)約了測(cè)試時(shí)間。專利說(shuō)明一種防止可靠性測(cè)試時(shí)發(fā)生共振的結(jié)構(gòu)[0001]本發(fā)明涉及用于半導(dǎo)體測(cè)試工藝領(lǐng)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。