技術編號：6224599
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明基于數(shù)字圖像相關的拉伸試樣形變測量方法，重點運用圖像相關方法，結(jié)合基于基準面的測量方法實現(xiàn)試樣的高速高精度測量。采用1.基于圖像相關的整像素定位；2.基于二維曲面擬合的亞像素定位；3.基于基準面的圖像映射定位；三者有機結(jié)合，構(gòu)成整個方法的主體。本發(fā)明的有益效果是由于采用了簡化的數(shù)字圖像相關方法結(jié)合基準平面映射方法，避免對試樣標記，簡化操作流程的同時，提高了試樣形變的測量速度與精度，提高了該系統(tǒng)的實用性。專利說明[0001]本發(fā)明屬于數(shù)字圖像測量材料形...
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