技術(shù)編號(hào)：6226509
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置。磁通發(fā)射單元(20)被安裝到檢測(cè)對(duì)象(20)上并且可以與檢測(cè)對(duì)象(2)一體旋轉(zhuǎn)。IC封裝(30)包括磁檢測(cè)元件(31)其根據(jù)在磁通發(fā)射元件(20)旋轉(zhuǎn)時(shí)引起的磁通方向的改變發(fā)射信號(hào)。蓋元件(40)包括底部(41)和管狀部分(42)。管狀部分(42)從底部(41)的外周延伸。當(dāng)安裝到殼體(5)時(shí)，蓋元件(40)用底部圍繞磁通發(fā)射單元(20)。支撐部分(50)從底部(41)朝管狀部分(42)的開口(44)伸出以便支撐IC封裝(...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。