技術(shù)編號(hào)：6235154
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，通過(guò)基頻信號(hào)調(diào)制激發(fā)光源作用于待測(cè)標(biāo)的物上，觸發(fā)熒光，使熒光成周期性增強(qiáng)與衰減，再通過(guò)二倍頻方波信號(hào)，控制采樣周期，將熒光上升周期和衰減周期都一分為二，分別獨(dú)立采樣后計(jì)算兩部分采樣差值并相加得到熒光信號(hào)的強(qiáng)度表征值，得到待測(cè)標(biāo)的物的濃度值。本發(fā)明的方法不僅同樣可以消除樣品中底物的熒光干擾，還可以消除環(huán)境背景光、空間電磁波工頻干擾等信號(hào)，提升檢測(cè)樣品熒光測(cè)量信號(hào)強(qiáng)度，具備常規(guī)時(shí)間分辨熒光方法無(wú)法完成的優(yōu)勢(shì)，可應(yīng)用于生物、化學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域標(biāo)的物的熒...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。