技術(shù)編號(hào):6237694
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器老化特性的自動(dòng)測(cè)試方法及系統(tǒng)。所述方法包括按照配置的老化特性測(cè)試參數(shù)啟動(dòng)晶振測(cè)量單元;按照預(yù)設(shè)的頻率采集時(shí)間間隔產(chǎn)生頻率采集信號(hào),向晶振測(cè)量單元發(fā)送所述頻率采集信號(hào)以采集待測(cè)晶體振蕩器在對(duì)應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的頻率;接收晶振測(cè)量單元返回的待測(cè)晶體振蕩器在對(duì)應(yīng)時(shí)間點(diǎn)的頻率;當(dāng)確定出待測(cè)晶體振蕩器的老化特性測(cè)試完成時(shí),對(duì)接收到的所述頻率進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得出待測(cè)晶體振蕩器的老化特性。通過(guò)本發(fā)明的技術(shù)方案,能夠使晶體振蕩器的老化特性測(cè)試過(guò)程自動(dòng)完成,具...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。