技術編號：6242440
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了。該方法包括使用預設的標準紫外光源對日盲紫外成像儀進行標定；根據(jù)標定后的標定數(shù)據(jù)設置增益控制參數(shù)，并根據(jù)增益控制參數(shù)對日盲紫外成像儀的增益進行自動調(diào)節(jié)；使用所述日盲紫外成像儀對目標位置的電暈放電進行檢測，得到實際檢測數(shù)據(jù)；根據(jù)檢測數(shù)據(jù)計算得到對應的目標位置的電暈的輻射亮度。通過使用本發(fā)明所提供的方法，可以對待檢測電暈的輻射亮度進行定量檢測。專利說明—種基于日盲紫外成像儀的電暈檢測方法 [0001]本發(fā)明涉及紫外成像檢測，特別涉及。 背景...
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