技術編號：6243850
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開一種微電容測試連接裝置，包括金屬底座(1)，所述金屬底座(1)頂面設有背面共地結構的共面波導(2)，共面波導(2)的導電金屬帶(4)上設有用于放置電容的卡槽(13)，導電金屬帶(4)的兩端分別設有與電容測試儀連接的SMA接口；共面波導(2)及SMA接口的特征阻抗與電容測試儀的特征阻抗相匹配；共面波導及SMA接口的特征阻抗與電容測試儀器的特征阻抗相匹配，相當于把被測電容直接連接于電容測試儀的兩個端口，消除了傳統(tǒng)測試連接方法中，由于測量儀與被測電容之...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。