技術(shù)編號：6251179
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了，屬于顆粒群尺度檢測領(lǐng)域，包括S1測量顆粒群中各個粒子體積和各個體積的粒子數(shù)量，獲得粒子體積v與數(shù)量n間的分布關(guān)系v-n；S2計算顆粒群的k階矩Mk；S3將分布關(guān)系v-n轉(zhuǎn)換為x-y關(guān)系、計算獲得無量綱k階矩并進一步計算獲得分形維數(shù)Df的關(guān)系式；S4遍歷篩選出數(shù)值位于1至3之間且符合所述關(guān)系式的分形維數(shù)Df，即獲得顆粒群的分形維數(shù)。本發(fā)明方法無需測量顆粒物幾何形態(tài)，也無需對單顆粒物逐個進行測量，是一種簡便、快捷、高效獲取顆粒群分形維數(shù)的方法。專...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。