技術(shù)編號：6253503
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，包括步驟A、測定本底樣品及標(biāo)準(zhǔn)樣品，得到本底樣品平均計數(shù)率、標(biāo)準(zhǔn)樣品平均計數(shù)率，并采用最小二乘法計算擬合系數(shù)；B、測定未知固樣，得到未知固樣中鉀離子的平均計數(shù)率，計算得到未知固樣中鉀離子的含量。該測定方法適用于一種基于β射線的單道測鉀儀，通過對標(biāo)準(zhǔn)樣品及未知固樣分別進(jìn)行測定，即可得到未知固樣中鉀離子的含量，其測定誤差不超過5％，同時該測定方法可直接對未知固樣進(jìn)行測定，實現(xiàn)了固樣中鉀離子含量的快速準(zhǔn)確測定。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。