技術(shù)編號：6310329
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體集成電路中用于電路的功能設(shè)定和特性調(diào)整的微調(diào)電路。背景技術(shù)在半導(dǎo)體裝置的被稱為電壓檢測電路或電壓設(shè)定電路的電路中，在設(shè)定電壓的電阻電路等中，為了調(diào)整電壓而設(shè)置有電阻的微調(diào)電路(例如，參照專利文獻I)。圖5是以往的微調(diào)電路的電路圖。對在以往的微調(diào)電路I中切斷熔斷器Fl的情況進行說明。解碼電路2向NMOS晶體管NI的柵極輸出高電平的電壓，向NMOS晶體管N2 N4 的柵極輸出低電平的電壓。NMOS晶體管NI導(dǎo)通，NMOS晶體管N2 N4截止。此...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。