技術(shù)編號：6365784
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及高光譜圖像處理，特別是涉及一種高光譜圖像中目標(biāo)地物檢測方法及裝置。背景技術(shù)太陽輻射到達地表后，自然界中的地物以其固有的特性發(fā)生反射、吸收和透射三種基本的相互作用，其中反射福射穿過大氣被遙感器接收與記錄，反射光譜(O. 4um 2.5um)已成為人們獲得地物信息的重要組成部分。其中，地物的光譜反射率隨波長變化的曲線稱為光譜反射率曲線，該光譜反射率曲線形狀反應(yīng)了地物的反射光譜特征。地物的組成、結(jié)構(gòu)、電學(xué)特性(電導(dǎo)、介電、磁學(xué)性質(zhì))及其表面特征(粗糙度...
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