技術(shù)編號：6412307
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及預(yù)測起因于熱載流子現(xiàn)象等的LSI的隨時間而發(fā)生的特性劣化并用LSI的定時模擬反映這一劣化的技術(shù)。半導(dǎo)體集成電路(LSI)有壽命，在經(jīng)過某一期間動作之后，將會產(chǎn)生故障或動作不合格。作為LSI的故障或動作不合格的主要原因，有起因于熱載流子現(xiàn)象的特性劣化和電致徙動所引發(fā)的布線斷線等原因。特別是熱載流子現(xiàn)象，會使晶體管的驅(qū)動能力劣化，因而使LSI的動作定時會隨著時間的流逝而變化，兩者中的不論哪一個都會導(dǎo)致誤動作。在近年的LSI中，隨著制造技術(shù)發(fā)達(dá)的同時，...
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