技術編號：6441208
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種量測系統及方法，尤其涉及一種。背景技術近年來，隨著計算機硬件性能的提高及價格的降低，其在掃描系統中被大量的引入。做法一般是使用掃描裝置掃描產品以獲得組成該產品的點云(即由多個三維離散點組成的點的集合)，而后將點云數據輸入計算機，執(zhí)行相應軟件對點云數據進行各種處理。在檢測產品時，通常需要對產品的局部進行檢測，然而，大部分掃描裝置在掃描產品時，無法精確到只掃描產品的某一個局部，因此，會產生許多的雜點。當需要對某個局部檢測時，需要去除這些雜點，進而...
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