技術(shù)編號：6486064
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取和匹配方法，特別涉及一種基于 Reeb圖的二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取和匹配方法。背景技術(shù)隨著科學(xué)技術(shù)不斷發(fā)展，信息爆炸時代來臨，二維單射曲面信息越來越多，例如地 形圖、三維光譜、水體的溫度或物質(zhì)分布圖等等。大量的二維單射曲面信息的數(shù)據(jù)庫相繼建 成。顯然，人工檢索存在費用昂貴、耗時長、漏檢率高的缺點。利用計算機進行檢索，往往是 最好的選擇。但對于一個龐大的數(shù)據(jù)庫，如果逐點比對，計算機檢索時間仍然過長。為了縮 短檢索時間...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。