技術(shù)編號(hào):6535653
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種板級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)分析方法與裝置,先在待測(cè)板進(jìn)行測(cè)試后,對(duì)得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行區(qū)間劃分,然后分析各個(gè)區(qū)間數(shù)據(jù),逐級(jí)對(duì)不同偏差率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間定位,建立待測(cè)板的生命周期模型,計(jì)算待測(cè)板的實(shí)際測(cè)量值和理論目標(biāo)值的偏差,獲得待測(cè)板的耗損情況及返修率。使用本發(fā)明的技術(shù)后,對(duì)產(chǎn)品生命周期進(jìn)行評(píng)估預(yù)測(cè),快速、準(zhǔn)確地獲知產(chǎn)品耗損情況及返修率;可以按照測(cè)試需求對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分區(qū)處理,在紛繁的數(shù)據(jù)中獲取直接有效的信息,降低了數(shù)據(jù)處理的難度,提高了工作效率;減少了模...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。