技術(shù)編號：6578460
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種包括具有動態(tài)老化測試功能的非易失性半導(dǎo)體存儲裝置的單片機(jī)及其動態(tài)老化測試方法。在高溫狀態(tài)下單片機(jī)的靜態(tài)老化測試篩選法中，使所有的輸入/輸出端處于特定的電平，并向電源接線端提供電源電壓。在這種靜態(tài)老化測試篩選法中，因?yàn)閱纹瑱C(jī)并不工作，因此沒有把應(yīng)力均勻地施加于單片機(jī)的各個(gè)元件，所以只能取得很小的老化測試篩選效果。在高溫狀態(tài)下單片機(jī)的定時(shí)老化測試篩選法中，只提供單片機(jī)工作所需要的時(shí)鐘信號，以便單片機(jī)執(zhí)行特定的操作。同樣，在這種定時(shí)老化測試篩選法中...
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