技術(shù)編號(hào):6621178
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種,包括步驟在一批使用電阻式觸摸屏的電子設(shè)備產(chǎn)品中選取m臺(tái)電子設(shè)備,對(duì)每臺(tái)取出的電子設(shè)備的電阻式觸摸屏的進(jìn)行測(cè)試,以獲取該電子設(shè)備的校準(zhǔn)參數(shù),基準(zhǔn)點(diǎn)C的物理坐標(biāo)(Xc,Yc),基準(zhǔn)點(diǎn)C的邏輯坐標(biāo)(XLc,YLc),X軸偏差系數(shù)kx以及Y軸偏差系數(shù)ky;取m臺(tái)電子設(shè)備的X軸偏差系數(shù)kx,以及Y軸偏差系數(shù)ky,分別得到二者的平均值以及將基準(zhǔn)點(diǎn)C的物理坐標(biāo)(Xc,Yc),基準(zhǔn)點(diǎn)C的邏輯坐標(biāo)(XLc,YLc),X軸偏差系數(shù)平均值以及Y軸偏差系數(shù)平均值...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。