技術(shù)編號：6623103
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了。方法包括分別采用多光譜成像系統(tǒng)和分光光度計得到得到樣本測量的光譜反射率和標準的光譜反射率。利用自適應波段選擇的方法得到參與校正的波段組合，并根據(jù)所得的波段組合二進制差分進化算法計算出光譜反射率的校正矩陣，從而實現(xiàn)光譜反射率的校正。本發(fā)明可以利用二進制差分進化算法從光譜反射率的所有采樣波段中選擇最合適的波段組合參與校正，相比于現(xiàn)有校正方法所采用的局部校正模型具有自適應的特點，從而提高了校正精度。專利說明 [0001]本發(fā)明涉及光譜反射率校...
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