技術(shù)編號：6625655
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種中央處理器性能測試方法及系統(tǒng)，其中，該方法包括制定測試計(jì)劃，所述測試計(jì)劃包括配置所述中央處理器配置信息以及確定所述配置信息中所需測試的性能參數(shù)；寫入所述中央處理器配置信息，將所需測試的性能參數(shù)賦值為第一參數(shù)值；根據(jù)所述中央處理器配置信息形成相應(yīng)的中央處理器參數(shù)化電路，以及確定DDR類型和測試軟件從而對所述所需測試的性能參數(shù)進(jìn)行測試；產(chǎn)生并保存性能測試數(shù)據(jù)；確定循環(huán)測試結(jié)束后，輸出性能測試結(jié)果。利用本發(fā)明，實(shí)現(xiàn)在電路設(shè)計(jì)階段就可以針對性能運(yùn)行軟...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。