技術(shù)編號(hào)：6637265
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及圖像處理，提供一種圖像污點(diǎn)測(cè)量方法及系統(tǒng)，方法包括對(duì)圖片圖像進(jìn)行位置糾正；選取二值化處理后的圖像中的某一行二值化塊或者某一列二值化塊作為最小單位的污點(diǎn)測(cè)量區(qū)域；對(duì)二值化塊的數(shù)量進(jìn)行測(cè)量統(tǒng)計(jì)；將污點(diǎn)測(cè)量區(qū)域的二值化塊的數(shù)量與標(biāo)準(zhǔn)二值化塊數(shù)量進(jìn)行比對(duì)分析；若污點(diǎn)測(cè)量區(qū)域的二值化塊的數(shù)量小于標(biāo)準(zhǔn)二值化塊數(shù)量，則進(jìn)行距離計(jì)算測(cè)量；判斷相鄰二值化塊之間的距離是否符合二值化塊距離閾值范圍；若相鄰二值化塊之間的距離大于二值化塊距離閾值范圍，則判定該相鄰二值化塊...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。