技術(shù)編號(hào)：6639537
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種磁盤(pán)IO性能的測(cè)試方法和裝置，該方法包括以下步驟獲取測(cè)試參數(shù)，根據(jù)所述測(cè)試參數(shù)生成對(duì)應(yīng)的IO請(qǐng)求，并對(duì)磁盤(pán)執(zhí)行所述IO請(qǐng)求，獲取執(zhí)行所述IO請(qǐng)求時(shí)的系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)；對(duì)所述系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到磁盤(pán)IO性能的測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明通過(guò)給予磁盤(pán)讀寫(xiě)壓力，對(duì)磁盤(pán)IO進(jìn)行測(cè)試，并通過(guò)追蹤監(jiān)控和分析系統(tǒng)性能數(shù)據(jù)，得到磁盤(pán)IO性能的測(cè)試結(jié)果，能夠更為全面、具體、直觀地了解磁盤(pán)的IO特性，以使磁盤(pán)的IO性能得到最大的利用。專(zhuān)利說(shuō)明-種磁盤(pán)10性能的測(cè)試方法和...
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該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類(lèi)技術(shù)沒(méi)有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。