技術(shù)編號：6656269
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及響應(yīng)檢測宇宙射線的集成電路芯片以及相關(guān)系統(tǒng)和宇宙射線檢測器。背景技術(shù) 地球表面上的正常背景輻射環(huán)境具有有時影響半導(dǎo)體集成電路芯片(例如計算機(jī)中使用的存儲器芯片)的可靠性的電離部分。如果入侵的粒子接近芯片中的p-n結(jié)，則它可能引起軟錯誤，或可能引起信號更改電壓并由此導(dǎo)致更改電壓值的數(shù)據(jù)位的單粒子翻轉(zhuǎn)?？赡芤驌舸┝Ｗ佣a(chǎn)生過量的電子-空穴對。p-n結(jié)附近的場如果足夠強(qiáng)，則在這些電子和空穴復(fù)合之前將它們分離，并將相應(yīng)符號的過量載流子清除到附近的裝置觸點...
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