技術(shù)編號：6706793
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種具有串行傳送方式的測定器，特別涉及一種于復數(shù)個模塊與控制器之間通過串行傳送方式實行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)送的測定器。背景技術(shù) 于測定LSI或TFT陣列等的半導體裝置的各特性的測定器中，被測定信號輸入數(shù)較多，為綜合所測定的數(shù)據(jù)并加以解析，如參考文獻1揭示的技術(shù)，較多的是采用將模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(ADC)模擬測定以及測定值，實行向數(shù)字數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的模塊與實行數(shù)據(jù)處理·解析以該模塊所獲得的數(shù)字數(shù)據(jù)的控制器部分分離的結(jié)構(gòu)。圖2表示具有分離為模塊230、231、232以及控制器...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。